Inventato nel 1981 da Gerd Binnig e Heinrich Rohrer (insigniti per questo del Nobel per la fisica del 1986), il microscopio a effetto tunnel (STM, Scanning Tunneling Microscope) è il capostipite dei microscopi a sonda di scansione (SPM, Scanning Probe Microscope), di cui fanno parte il
microscopio a forza atomica (AFM, Atomic Force Microscope) e il microscopio a campo prossimo (SNOM, Scanning Nearfield Optical Microscope).Il fenomeno fisico che sta alla base del funzionamento di tutti questi microscopi è la piezoelettricità, la proprietà cioè che hanno alcune ceramiche di elettrizzarsi quando vengono deformate elasticamente e, viceversa, di deformarsi se assoggettate a un campo elettrico. Questa correlazione è molto precisa e permette, grazie a un meccanismo di retroazione (su cui si basa un dispositivo chiamato
attuatore piezoelettrico), di guidare la sonda - la cui punta ha dimensioni idealmente monoatomiche - lungo le gibbosità della superficie scansionata, restituendone la topografia a una risoluzione nanometrica.
L’STM compie la sua scansione misurando la corrente di
tunneling che passa tra la punta e il campione (si tratta di un fenomeno quantistico basato sull'effetto tunnel, l'effetto per cui gli elettroni possono oltrepassare seppure in minima quantità le "barriere di potenziale", come la barriera costituita dall'aria): l’intensità di questa corrente dipende infatti strettamente dalla distanza. Siccome si è in grado di misurare con estrema precisione questa intensità, si possono rilevare rugosità anche inferiori ai decimi nanometro.
Il microscopio è in grado di acquisire una fitta griglia di dati: questi dati, suscettibili anche di elaborazione matematica, possono poi venire visualizzati come immagini bidimensionali in toni di grigio (come mostra una delle immagini associate) oppure, utilizzando un programma di grafica 3D, come viste prospettiche in diversi colori. La colorazione della superficie del metallo nelle immagini presentate non ha quindi niente a che vedere con il colore naturale dell'oggetto rappresentato: è stata scelta per delle ragioni puramente estetiche.
Le immagini sono state realizzate presso il Laboratorio Nazional TASC INFM - CNR con un microscopio Omicron VT-STM (VariableTemperature-STM). Questo strumento è in grado di lavorare tra 130K e 800K, prestazione essenziale nel caso della ceria: peravere una conducibilità sufficiente a ottenere una buona risoluzione, bisogna infatti mantenere il campione a circa 300°C.
La maggior parte delle misure che utilizzano un STM devono venire effettuate in un ambiente estremamente pulito e isolato, perché le superfici della maggior parte dei materiali sono molto reattive e si ricoprono velocemente di contaminanti. Di solito, lo strumento viene per questo inserito in una camera di misura a tenuta stagna e tutta l’aria viene espulsa utilizzando delle speciali pompe a vuoto, fino a raggiungere pressioni tipiche di circa 10
-10mbar (diecimila miliardi di volte inferiori alla pressione atmosferica).