Le immagini sono state realizzate presso il Bionanolab A.P.E Research di Trieste con un microscopio a forza atomica AFM A-100 costruito dalla stessa A.P.E. Research. Il microscopio a forza atomica (AFM), come il
microscopio a effetto tunnel (STM) o quello
campo prossimo (SNOM) , appartiene a una famiglia di raffinati strumenti di misura detti collettivamente
microscopi con sonda di scansione (SPM, Scanning Probe Microscope).
Il fenomeno fisico che sta alla base del funzionamento degli SPM è la piezoelettricità, la proprietà cioè che hanno alcuni materiali di elettrizzarsi quando vengono deformati elasticamente e, viceversa, di deformarsi se assoggettati a un campo elettrico. Questa correlazione è molto precisa e permette, grazie a un meccanismo di retroazione, di guidare l'appuntita sonda (la punta della sonda ha dimensioni monoatomiche) lungo le gibbosità della superficie scansionata, restituendone la topografia ad altissima risoluzione.
La sonda dell'AFM registra le variazioni del campo di forze che si producono localmente a livello atomico: forze di Van der Waals, elettrostatiche e ioniche. Il microscopio può operare in due diverse modalità: non-contatto e contatto. Nel primo caso (la modalità utilizzata per scansionare le cellule dell’immagine), la puntina rimane a una distanza di circa 1 nm dal campione ed è sensibile alle forze attrattive. Nella modalità di contatto, invece, dove l'interazione tra punta e campione è maggiore (ma può anche essere maggiormente distruttiva), la punta diventa sensibile alle forze repulsive.
Le cellule nella figura principale sono visualizzate in due dimensioni e appaiono come se fossero osservate in trasparenza. L’effetto è dovuto al fatto che le tonalità più scure codificano per valori più alti sull’asse z, che corrisponde effettivamente allo spessore delle cellule. Lo si vede meglio nell’immagine associata ottenuta con un software di visualizzazione grafica, che ha restituito volume alla topografia. Il rilievo è stato anzi reso con una notevole esagerazione verticale: infatti, mentre l’area inquadrata corrisponde a 60µm; x 60µm;, lo spessore del campione è inferiore ai 2µm.
L'AFM raggiunge una risoluzione inferiore a quella che si ottiene con l'STM, ma la gamma dei campioni osservabili si estende alle sostanze organiche e anche a ceramiche e ad altre sostanze isolanti. A differenza dell'STM, l'AFM non richiede infatti nessun passaggio di corrente tra il campione e la puntina. Rispetto al
microscopio elettronico a scansione (SEM), l'AFM presenta l'ulteriore vantaggio che i campioni possono essere osservati senza alcuna preparazione e in aria, senza doverli cioè inserire in una camera da vuoto.